Jasco分析型分光光譜儀 V-750 V-760

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Jasco
V-750 V-760

Jasco分析型分光光譜儀 V-750 V-760 特色

  1. 可外接觸控型彩色iRM控制面板,具有樣品測量、即時圖譜顯示、資料分析及儲存等功能,並可藉由USB將資料複製至電腦上保存或分析
  2. 智慧型IQ Accessory & IQ Start辨識功能,可自動判斷安裝附件型號並啟動預設參數
  3. 軟體可完全相容在Win8.1中文版上執行
  4. 每日機台效能驗證程式
  5. 自動化數據處理
  6. 附件辨識系統
  7. 免調校之燈源安裝
  8. 穿透反射零點校正
  9. 50種以上各式樣品偵測附件
  10. 多工Spectra ManagerTM光譜
  11. 控制體或新型iRM-1000控制平板
  12. 軟體符合21CFR Part 11

Jasco分析型分光光譜儀 V-750 V-760 規格

型號 V-750 V-760
光學系統 雙光束、單分光器 雙光束、雙分光器
波長範圍 190 ~ 900nm 187 ~ 900nm
圖譜頻寬 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 5, and 10 nm (標準高度)
L2, L5及L10 nm (低迷光率半高寬)
M1,M2 nm (微量液槽專用)
波長準確度 ±0.2nm ±0.1nm
波長再現性 ±0.05nm
光源 氘氣燈(190 ~ 350nm)、鹵素燈(330 ~ 900nm)
燈源切換位置 330 ~ 350 nm 可任意調整
檢知器 光電倍增管(Photomultiplier tube)
掃描速度 10, 20, 40, 100, 200, 400, 1000, 2000, 4000 ( 8000nm/min in preview mode)
迷光率 0.005%T (220 nm NaI, 340 nm NaNO2) 0.00008%T (220 nm NaI, 340 nm NaNO2)
基線穩定性 ±0.0003 Abs/hr.
基線平坦度 ±0.0002 Abs(200 ~ 850nm) ±0.0003 Abs(200 ~ 800nm)
測定範圍 具Dark Correction 功能,可測定-4 ~ +4Abs 具Dark Correction 功能,可測定-4 ~ +6Abs
測定準確度 ±0.0015 Abs(0 ~ 0.5 Abs)
±0.0025 Abs(0.5 ~ 1 Abs)
±0.3%T
測定再現性 ±0.0005 Abs(0 ~ 0.5 Abs)
±0.0005 Abs(0.5 ~ 1 Abs)
測定感度 RMS noise 0.00003 Abs(500 nm; 60 sec; Response=medium; BW=2 nm)
波長切換速度 12000 nm/min
主機與控制電腦傳輸介面 USB
電源 110V/60Hz
主機尺寸 460(W) x 602(D) x 268(H) mm
重量 約27公斤 約29公斤

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