J-1500 CD系統的靈活性大，允許使用不同的測量技術升級。標準測量模式是CD、LD和吸光度，在與各種採樣附件結合使用時，最多可以同時具備四種量測模式。
這些附件的搭配使用可以測量從液體、薄膜再到固態各種樣品。溫度控制系統可以應用於構型和摺疊研究，提供CD和熱力學相關數據收集。自動化高通量CD可獲得多達192個樣品的測量結果，可節省時間和金錢。搭配止流系統測量CD和螢光數據，可以進行動力學和蛋白質動力學研究。此外，J-1500具備較寬廣波長範圍，可使用標準PMT檢測器（163 – 950 nm）和可選配的InGaAs檢測器（高達1600 nm）在真空 – UV和NIR光譜區域進行測量。
型號 | J-1500 |
光源 | 150W氣冷式氙燈（J-1500-150） 或450W水冷式氙燈（J-1500-450） |
選配光源 | 20W鹵素燈，150W氣冷式汞-氙燈 |
用於驗證的光源 | 汞燈 |
檢知器 | PMT, ExPMT (option), InGaAs (option) |
單光器 | 雙棱鏡偏振單光器 |
波長範圍 | 163 to 950 nm (standard) |
波長精度 | ±0.1 nm (163 to 250 nm) |
波長可重複性 | ±0.05 nm (163 to 500 nm) |
波長解析度 | 0.025 nm |
光譜頻寬 | 0.01 to 16 nm |
狹縫寬度 | 1 to 4000 μm |
積分時間 | 0.1 msec to 30 sec |
測量模式 | 連續掃描、步進掃描、自動掃描 |
掃描速度 | 高達10,000 nm/min |
CD 全範圍 | ±8000 mdeg |
CD 解析度 | 0.00001 mdeg |
CD 動態範圍 | 即使光路中有 OD=3 樣品，也不會出現 CD 失真 |
迷光 | 小於0.0003% (at 200 nm) |
RMS 雜訊 (185 to 500 nm: SBW 1 nm, DIT 8 sec.) | 0.004 mdeg (185nm, 150W) |
基線穩定性 | 0.02 mdeg/hr |
LD 測量 | 標配，滿量程±1 ΔOD |
UV測量 | 標配，高達 5 Abs |
外部輸入端子 | 兩個通道（輸入範圍：-1 至 1 V DC） |
氮氣吹掃 | 高效氮氣吹掃，對光源、單光器和樣品室進行內部優化。 |
配件自動識別 | 標配 |
通信/控制 | USB 2.0 / Spectra Manager™ II or Spectra Manager™ CFR |
樣品載具尺寸 | 150 W x 310 D x 165 H mm |
尺寸 | 1055 W x 545 D x 390 H mm (J-1500-150) |
重量 | 77 kg (J-1500-150), 82 kg (J-1500-450) |
電源輸入電壓 | 100, 115, 200, 220, 230, 240 V, 50/60 Hz |
功耗 | 315 VA (J-1500-150) , 685 VA (J-1500-450) |
