產品定位
ATX124R / ATX224R / ATX324R(內校)與 ATY124R / ATY224R / ATY324R(外校)是日本島津 SHIMADZU AT-R 系列經濟款分析天平的六款型號,具 0.1 mg(0.0001 g)精度,搭載島津 UniBloc 一體成型鋁合金感應元件(同 TX/TW/UP 系列同源),涵蓋 120 g、220 g、320 g 三個秤重量等級。ATX 為內校版本(馬達驅動內藏砝碼自動校正,Touch-Key 一鍵啟動)、ATY 為外校版本。
AT-R 系列在四位數分析天平中定位明確為「經濟款 + 高規格 + 低成本」—— 透過 UniBloc 技術提供 0.1 mg 精度與穩定性,但不包含 AU 系列的 PSC 自動校正、Clock Calibration 等進階功能,也不含 AP 系列的 LabSolutions 整合與 ER/ES 合規,因此價格較親民。配備業界同等級最大的 91 mm 圓秤盤(比 AU 的 80 mm 大),適合大型量瓶、燒杯等容器。
跟同位數的 AU 系列、AP 系列(都搭載 UniBloc 但有更完整的應用模式與資料管理)相比,AT-R 系列定位在「第一台分析天平、預算優先、需要大秤盤、單純稱量為主」的場景。適合教學、學生實驗、化學配方入門、QC 例行分析、研究預算受限的中小型實驗室。
適合什麼應用
- 教學實驗、學生實驗的分析天平需求:大專院校化學系、藥學系、食品系的分析化學課程,需要 0.1 mg 精度,但對進階功能需求不高。AT 的 91 mm 大秤盤對使用大型量瓶、坩堝、燒杯較方便。
- 化學配方、藥草樣品稱量:小規模研發、配方測試、藥草分析、HPLC 標準品配製等需要四位數精度但預算敏感的場景。
- QC 例行分析、品檢中階作業:工廠 QC 例行作業中對 0.1 mg 精度有需求、但不需要 LabSolutions 進階資料管理的場景。
- 替換老舊四位數天平、預算受限的更新:既有分析天平需要汰換、但採購預算有限,AT-R 是合理的替換選項——同時取得 UniBloc 升級。
- 需要 91 mm 大秤盤的應用:處理大型容器(大型量瓶、坩堝、樣品瓶)的實驗室,AT-R 的 91 mm 圓秤盤是同等級中最大的,操作彈性比 80 mm 圓盤大。
與其他型號的差異
ATX(內校) vs ATY(外校) 怎麼選?
ATX 與 ATY 的硬體完全相同(秤重量、可讀性、UniBloc 感應元件、91 mm 大秤盤、所有應用功能),差別只在校正方式:
- ATX 系列(內校):內藏馬達驅動砝碼自動校正(Built-in motor-driven calibration weights),Touch-Key 一鍵啟動;另支援外部砝碼校正。多人共用、頻繁校正、SOP 化作業場景首選。
- ATY 系列(外校):需手動放上外部標準砝碼啟動感度修正流程。價格較低,適合使用頻率不高、預算較緊、能管理外部砝碼的場域。
選型建議:分析天平(0.1 mg 等級)對校正頻率比三位數要求更高——環境溫度變化、機台搬動、長時間操作都會影響感度。如果使用頻率高、多人共用、要求 SOP 化校正,直接選 ATX 內校。預算優先且校正頻率不高的場景才考慮 ATY 外校。注意:AT 系列的內校沒有 AU 系列的 PSC 自動校正(自動偵測溫度變化觸發內校),需要使用者主動按 Touch-Key 啟動。如果需要全自動內校,直接看 AU 系列。
120 / 220 / 320 g 三個秤重量怎麼挑?
三款型號可讀性都是 0.1 mg,差別在秤重量上限。選擇邏輯依「樣品 + 容器 + 操作緩衝」三者加總:
- ATX124R / ATY124R(120 g):樣品 + 容器加總多在 90 g 以下。最常見的標準款,適合多數化學配方、藥草樣品稱量、HPLC 標準品配製、痕量分析。
- ATX224R / ATY224R(220 g):樣品 + 容器加總可能到 180 g 以上。適合中型容器、樣品累積稱量、配方分裝。
- ATX324R / ATY324R(320 g):樣品 + 容器加總可能到 250 g 以上。適合大樣品、容器較重、批次配方場景。
選型建議:預留 20–30% 緩衝空間,避免接近秤重量上限影響操作彈性。預算差異不大時,建議選秤重量稍大的版本,操作彈性較佳。120 g 是最常見的入門選擇,涵蓋多數化學配方、QC、教學的稱量需求。
AT-R 跟 AU、AP 四位數的階梯定位
島津四位數分析天平產品線是階梯式分級——三條產品線都用 UniBloc,差異在應用模式、自動化程度、合規管理:
| 系列 | 秤盤 | 秤重量範圍 | 內外校 | 獨特功能 |
|---|
| AT-R 系列(本頁) | 91 mm 圓盤(最大) | 120g、220g、320g | ATX 內校(Touch-Key) / ATY 外校 | 大秤盤、Easy Setting、5-stage 反應穩定切換、Comparator、Formulation |
| AU 系列 | 80 mm 圓盤 | 120g、220g、320g(視 AUW/AUX/AUY) | AUW/AUX 內校 / AUY 外校 | + PSC 溫度感知自動校正、Clock Calibration 定時自動校正、Below-weigh hook 下方掛鉤、特定計量法規場域認證 |
| AP 系列 | 80 mm 圓盤 | 120g、220g、320g | AP-W/X 內校 / AP-Y 外校 | + 新一代 UniBloc(反應 2 秒)、彩色 OEL 螢幕、條碼閱讀器、LabSolutions、ER/ES 合規、自動門款(AP-AD) |
選型建議:三系列差異主要在「自動化程度與合規管理」。如果只需要單純的 0.1 mg 稱量、操作頻率不高、預算優先 → AT-R 完全夠用,而且 91 mm 大秤盤反而比 AU/AP 的 80 mm 圓盤更實用。如果需要 PSC 全自動校正、長時間連續操作、特定計量法規場域(歐盟、日本) → AU 系列。如果需要 GMP / FDA / 製藥研發合規(LabSolutions、ER/ES) → AP 系列。完整的三系列選型邏輯可參閱 四位數分析天平分類頁。
AT 四位數 vs 三位數 — 跨界決策
四位數的精度是 0.1 mg(0.0001 g),三位數是 1 mg(0.001 g),選擇看「樣品最小稱量目標」:
- AT-R 四位數(本頁,120g–320g × 0.1mg):適合最小稱量目標 100–1000 mg、需要 0.1% 內精度的分析應用、HPLC 標準品配製、藥典分析、痕量化學分析。
- 三位數電子天平(220g–1020g × 0.001g):適合最小稱量目標 1 g 以上的化學配方、教學、QC 例行稱量。
選擇原則:從樣品最小稱量目標反推。樣品 ≥ 1 g 且不需痕量精度 → 三位數較實用;樣品介於 100 mg–1 g → 四位數合理;樣品 < 100 mg(或需要極微量精度)→ 五位數。詳細的可讀性與最小稱量決策邏輯可參閱 實驗室電子天平介紹。
AT-R 系列共有的核心技術與功能
- UniBloc 一體成型感應元件:島津 1989 起的核心技術,以 1 個鋁合金一體成型元件取代傳統 70 個感應器零件。優點是反應速度快、溫度特性穩定、四角載重均勻度佳、抗衝擊耐用。
- 業界同等級最大的 91 mm 圓秤盤:比 AU/AP 系列的 80 mm 大,適合放置大型量瓶、坩堝、燒杯等容器,操作彈性佳。
- Easy Setting(應用快速切換)+ 5-stage 反應穩定切換:在量測中可一鍵調整反應(R)/ 穩定(S)5 級比例,適合不同特性樣品(粉末、液體、塊狀)快速切換。
- 馬達驅動內校(僅 ATX 系列):Built-in motor-driven calibration weights,Touch-Key 一鍵啟動內校,操作迅速。
- WindowsDirect 通訊:不需安裝任何軟體,只要一條 RS-232C 線即可將稱量資料直接傳到 Excel 或其他 Windows 應用程式。
- Expanded Piece Counting(擴充計數):可預設 5 種樣品的單件重量並儲存,支援快速切換計數模式。
- Comparator(比對功能):可設定上下限值,讀值超出範圍自動警示。
- Formulation(配方模式):可累計多次稱量結果,適合配方研發場景。
- 多種秤重單位 + 自訂單位:涵蓋 g、ct (克拉)、mg、oz 等;可自訂換算單位。
規劃整體系統
選定 AT-R 系列後,實際使用前還需要考慮幾個搭配元素:
- 外部標準砝碼(ATY 必備、ATX 例行確認用):ATY 系列日校需用外部砝碼,選 OIML F1 等級;ATX 系列雖有內校,但 GMP / GLP 場域仍需用外部砝碼做例行確認(Routine Test)。0.1 mg 等級的校正比三位數要求更高,建議搭配可溯源年度校正服務。
- STABLO-AP 離子風除靜電器(選配):四位數對靜電干擾比三位數敏感得多。粉末、薄膜、塑膠容器、低濕度環境(冬季、空調環境)都可能造成讀值漂移。STABLO-AP 以 AC 方式提供長期穩定離子平衡,一鍵消除靜電。
- 實驗桌或天平桌:四位數對振動、氣流敏感度高,強烈建議使用專用天平桌(石材檯面 + 減振結構),避免使用一般實驗桌。詳細可參閱 實驗桌規劃。
- 環境條件:四位數天平對環境條件要求較高——避開冷氣出風口、強震動源、陽光直射、門口主要動線。建議規劃獨立天平室或低氣流稱量區,溫度日內波動建議在 ±2°C 以內。
- 校正服務:GMP / GLP 場域需建立年度校正服務(可溯源外部砝碼校正報告)。校正、調整、例行確認、Calibration 四層概念的完整邏輯可參閱 實驗室電子天平介紹。
如有完整實驗室規劃需求(空間配置、天平室規劃、儀器動線),可參閱 實驗室建置服務。對於應用場景或合規需求的整合判斷,歡迎透過下方詢問表單聯繫。