V-730 / 750 / 760 / 770 / 780 系列 JASCO UV-Vis NIR 分光光度計

V-700 系列 5 款怎麼選

JASCO V-700 系列 UV-Vis NIR 分光光度計 5 款共用緊湊光學平台,差異主要在波長範圍、迷光、檢測器配置與光譜帶寬。從入門 QC 等級的 V-730、高靈敏研究級的 V-750、超低迷光雙單色器的 V-760,到延伸到 NIR 的 V-770 與 InGaAs 高靈敏 V-780,涵蓋從 187 nm 遠紫外到 3200 nm 近紅外的研究需求。本頁整理 5 款的選型邏輯與應用對應;深入比較各類光譜儀差異可參考 UV-Vis 分光光度計選型總覽

詳細規格請參閱本頁「規格」分頁。報價與客製化評估請洽原拓科技。

應用情境 → 機型對應

下表整理常見應用對應的 V-700 系列機型,可作為採購評估的起點。實際配置仍需依樣品濃度範圍、是否需要 NIR、是否需要積分球綜合判斷。

應用情境建議機型關鍵特徵
入門 QC 例行檢測、教學V-730Si photodiode、190–1100 nm、固定 1 nm 帶寬
藥典 QC、低濃度生物樣品定量V-750PMT 檢測、可變帶寬至 0.1 nm、線性 5 Abs
高吸收材料、寬動態範圍 8 AbsV-760雙單色器、超低迷光 0.00008%
薄膜光學特性、NIR 漫反射材料V-770單單色器 PMT + PbS 雙檢測器,190–2700 nm(可擴 3200)
半導體光學特性、太陽能、低光通量 NIRV-780PMT + InGaAs 雙檢測器、雙光柵自動切換、190–1600 nm 高靈敏 NIR
高通量自動樣品交換V-730 / 750 / 760+ 自動 Cell Changer 或 Sipper
固體粉末、薄膜漫反射量測V-770 / 780+ 大型積分球、絕對反射附件
氣相、蒸氣相高解析光譜研究V-750 / 760帶寬至 0.1 nm + 長光程氣體槽

5 款機型定位

V-700 系列 5 款是一條完整的階梯式產品線,差異主要在波長範圍、檢測器配置、迷光與帶寬。

V-730(入門款)

緊湊雙光束、Si photodiode 檢測器、波長 190–1100 nm、固定 1 nm 帶寬。適合教學、QC 例行檢測、入門研究。光譜精度 ±0.0015 Abs(0 至 0.5 Abs)。

V-750(高靈敏 PMT)

雙光束、PMT 檢測器、波長 190–900 nm、可變帶寬 0.1–10 nm。低迷光 0.005%、線性可達 5 Abs。適合低濃度生物分子定量、藥典 QC、需要高解析(0.1 nm 帶寬)的氣相光譜研究。

V-760(雙單色器超低迷光)

雙光束、雙單色器設計,迷光低至 0.00008%。動態範圍 UV-Vis 達 6 Abs(可見光區可達 8 Abs)。適合高吸收材料、需要極高線性的標準化分析。可變帶寬 0.1–10 nm。

V-770(NIR 雙檢測器)

單單色器設計,PMT(UV-Vis) + Peltier 冷卻 PbS(NIR) 雙檢測器,標準波長 190–2700 nm(可擴充至 3200 nm)。單單色器設計提供高光通量,特別適合 NIR 漫反射、鏡面反射量測。可搭配大型積分球進行薄膜、固體樣品的光學特性研究。

V-780(InGaAs NIR 高靈敏)

PMT + 高靈敏 InGaAs 雙檢測器、雙光柵自動切換(UV/Vis 1200 lines/mm、NIR 600 lines/mm),波長 190–1600 nm。InGaAs 檢測器在 NIR 區域提供比 PbS 更佳的響應與靈敏度,適合半導體、太陽能電池、低光通量 NIR 樣品。光譜精度 ±0.0005 Abs。

實務觀察:V-730 與 V-750 的選擇,實務上最常被低估的是「檢測器類型」對未來擴充的影響——V-730 的 Si photodiode 雖然穩定,但對極低濃度樣品的訊雜比明顯不如 V-750 的 PMT。預期之後會做低濃度螢光標記、稀薄生物樣品的場域,從 V-750 起跳會比較有彈性。V-770 與 V-780 的差異則在 NIR 區域的靈敏度——半導體、太陽能、量子點材料相關研究建議直接 V-780,一般 NIR 漫反射 V-770 已足夠。

系列全部機型

下列為 V-700 系列 5 款獨立產品頁。所有機型共用 Spectra Manager Suite 軟體,可選配 21 CFR Part 11 合規版本。

整廠規劃與延伸資源

UV-Vis 雖較 FTIR、CD 寬容,但 V-770/780 等 NIR 機型對溫濕度穩定、光源耗材更換動線、空調穩定都更敏感;高吞吐量場域還需評估自動進樣盤、自動比色槽切換等空間需求。整廠規劃時把 UV-Vis 環境一併考量,可避免後續逐項補救。

整廠規劃與設備整合

相關設備分類

延伸閱讀

需要評估 V-700 系列選型、自動進樣配置或整廠規劃,可提供樣品型態、預期波長範圍、是否需要 NIR 與現場條件,原拓可協助評估;若有特殊規格需求,亦能依需求協助評估其他配置。

品牌:JASCO
產品型號:V-700 Series (V-730、V-750、V-760、V-770、V-780)

V-700 系列有五種不同的型號,波長範圍從遠紫外區 (187 nm) 到近紅外區 (3200 nm) 。緊湊型光學設計顯著降低實驗室對工作空間的要求。高通量光學設計具有極高的測量準確性、可重複性、解析度及穩定性,,適用於高級生物學、材料科學、熱力學等定性定量之光譜表徵研究。

V-730 / 750 / 760 / 770 / 780 系列 JASCO UV-Vis NIR 分光光度計
產品特色

產品特色

特點 :

  • 緊湊型設計:降低了實驗室工作空間的要求。
  • 寬廣的波長範圍:高能量通量為整個紫外可見到近紅外光譜範圍提供了出色的訊雜比,並具有最高靈敏度與動態範圍的檢知器。
  • 卓越的光學性能:精密的電子和光學系統可減少迷光率,提供寬廣的光度範圍與高精度測量。
  • 高速掃描:高通量光學和快速反應檢知器提供高速掃描,且沒有波長追蹤誤差。
  • 暗校正:可降低迷光率影響,提升對高吸光值樣品測量精度。
  • 單光器步進掃描:步進掃描功能為具有尖銳或半高寬較窄的吸收峰提供可靠波峰圖譜。
  • 簡易使用的操作介面:可選擇電腦操作軟體(可選配符合FDA 21 CFR part 11)或 iRM觸控面板,可全面控制儀器測量樣品並處裡數據。
  • IQ Accessory:自動附件識別系統可動辨識安裝的樣品槽座,並自動載入最適合的測量參數。
  • IQ Start:只需按下“開始按鈕”即可快速開始樣品測量。
  • 多種附件:JASCO具有50多種用於氣體、液體和固體樣品的測樣附件,可應用在各種不同的研究領域。
  • 合規性:符合 GxP 實驗室規範,內建USP、EP 和 JP 的儀器驗證程序,提供IQ/OQ文件所需的驗證結果。
規格

規格

型號

V-730

V-750

V-760

V-770

V-780

波長範圍

190到1100 nm

190到900 nm

187到900 nm

190到2700 nm

 (可選購至 3200 nm)

190到1600 nm

波長準確度

+/-0.2 nm (at 656.1 nm)

+/-0.1 nm (at 656.1 nm)

+/-0.3 nm (at 656.1 nm)

+/-1.5 nm (at 1312.2 nm)

+/-0.3 nm (at 656.1 nm)

+/-1.0 nm (at 1312.2 nm)

波長再現性

+/-0.1 nm

+/-0.05 nm

+/-0.05 nm (UV-Vis)

+/-0.2 nm (NIR)

+/-0.05 nm (UV-Vis)

+/-0.1 nm (NIR)

光譜帶寬(SBW)

1 nm

0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 5, 10 nm

L2, L5, L10 nm (低迷光模式)

M1, M2 nm (微量液槽模式)

UV-Visible: 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 5, 10 nm

L2, L5, L10 nm (低迷光模式)

M1, M2 nm (微量液槽模式)

NIR: 0.4, 0.8, 1, 2, 4, 8, 20, 40 nm

L8, L20, L40 nm (低迷光模式)

M4, M8 nm (微量液槽模式)

迷光率

198 nm KCL

12 g/L 水溶液

1 %

1 %

1 %

1 %

1 %

220 nm NaI

10 g/L水溶液

0.02 %

0.005 %

0.00008 %

0.005 %

0.005 %

340 nm NaNO2

50 g/L水溶液

0.02 %

0.005 %

0.00008 %

0.005 %

0.005 %

370 nm NaNO2

50 g/L水溶液

0.02 %

0.005 %

0.00008 %

0.005 %

0.005 %

1420 nm: H2O

0.04 %

0.04 %

1690 nm: CH2Br2

0.1 %

光度範圍

-3~3 Abs

-4~4 Abs

-4~6 Abs

紫外-可見光區: -4~4 Abs

近紅外區: -3~3 Abs

吸光值準確度

+/-0.0015 Abs (0 to 0.5 Abs)

+/-0.0025 Abs (0.5 to 1 Abs)

+/-0.3 %T Tested

+/-0.0015 Abs (0 to 0.5 Abs)

+/-0.0025 Abs (0.5 to 1 Abs)

+/-0.3 %T Tested

掃描速度

10-8000 nm/min

10-4000 nm/min

RMS 雜訊等級

0.00004 Abs

0.00003 Abs

基線穩定度

0.0004 Abs/hour

0.0003 Abs/hour

0.0004 Abs/hour

基線平坦度

+/-0.0005 Abs

+/-0.0002 Abs

+/-0.0003 Abs

+/-0.0002 Abs

檢知器

矽光電二極體

光電倍增管 (PMT)

光電倍增管 (PMT)

PbS

光電倍增管 (PMT)

InGaAs光電二極體檢知器

積分球及絕對反射裝置

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