| 規格名稱 | 規格說明 |
| 光學系統 | 雙光束、單分光器 |
| 波長範圍 | 190 ~ 1,100nm |
| 圖譜頻寬 | 1.0 nm |
| 波長準確度 | ±0.2nm |
| 波長再現性 | ±0.1nm |
| 光源 | 氘氣燈(190 ~ 350nm)、鹵素燈(330 ~ 1100nm) |
| 燈源切換位置 | 330 ~ 350 nm 可任意調整 |
| 檢知器 | S1337矽光電二極體 (Silicon phtotdiode) |
| 掃描速度 | 10, 20, 40, 100, 200, 400, 1000, 2000, 4000 and 8000nm/min |
| 迷光率 | 0.02%T (220 nm NaI, 340 nm NaNO2) |
| 基線穩定性 | ±0.0004 Abs/hr. |
| 基線平坦度 | ±0.0005 Abs(200 ~ 850nm) |
| 測定模式 | Abs, %T, %R(反射率) |
| 測定範圍 | 具Dark Correction 功能，可測定-3 ～ +3Abs |
| 測定準確度 | ±0.0015 Abs(0 ~ 0.5 Abs) ±0.0025 Abs(0.5 ~ 1 Abs) ±0.3%T |
| 測定再現性 | ±0.0005 Abs(0 ~ 0.5 Abs) ±0.0005 Abs(0.5 ~ 1 Abs) |
| 測定感度 | RMS noise 0.00004 Abs (500 nm; 60 sec; Response=medium; BW=2 nm) |
| 波長切換速度 | 24000 nm/min |
| 主機與控制電腦傳輸介面 | USB |
| 電源 | 110V/60Hz |
| 主機尺寸 | 486(L) x 441(W) x 216(H) mm |
| 重量 | 約15公斤 |
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