V-770 適合什麼應用
V-770 是 V-700 系列中第一款 UV-Vis-NIR 機種,採用單單色器設計,搭配 PMT(UV-Vis 區)+ Peltier 冷卻 PbS(NIR 區)雙檢測器,波長範圍 190–2700 nm(可擴充至 3200 nm)。單單色器設計提供高光通量,特別適合 NIR 漫反射、鏡面反射量測。可搭配大型整合球、絕對反射附件進行薄膜、固體樣品的光學特性研究。
適合的場域
- 薄膜光學特性分析:抗反射膜、抗紅外線膜、光學鏡片、半導體光學特性量測
- NIR 漫反射量測:粉末、塗層、紡織品、農產品的近紅外漫反射光譜
- 鏡面反射量測:鏡面、晶圓表面、抛光金屬的反射光譜
- 整合球材料分析:漫透射、漫反射、絕對反射(R∞)的精確量測
- 近紅外材料科學研究:稀土材料、量子點材料(基礎)、光學玻璃、太陽能玻璃
- 波長到 3200 nm 的延伸應用:選配波長擴充套件,可量測到 3200 nm 的特殊樣品
不適合的應用
- 不需 NIR、純 UV-Vis 應用:可考慮 V-750(投資門檻較低)或 V-760(雙單色器)
- 需要 NIR 區域的高靈敏度量測:量子點、特殊半導體、低光通量 NIR 樣品建議 V-780 的 InGaAs 檢測器
- 波長超過 3200 nm 的研究:需 FTIR 系列(如 FT/IR-6X 配遠紅外擴充)
- 極高吸收樣品的精準量測:單單色器設計線性 5 Abs,高吸收建議 V-760(雙單色器 8 Abs)
與同系列其他型號的差異
| 項目 | V-760 | V-770(本款) | V-780 |
|---|
| 波長範圍 | 190–900 nm | 190–2700 nm(可擴 3200) | 190–1600 nm |
| 單色器 | 雙單色器 | 單單色器 | 單單色器(雙光柵自動切換) |
| 檢測器 | PMT | PMT + PbS(NIR) | PMT + InGaAs(NIR 高靈敏) |
| NIR 靈敏度 | 不支援 | 標準(適合漫反射) | 高(適合低光通量樣品) |
| 光通量 | 較低(雙單色器) | 高(單單色器) | 高(單單色器) |
| 主要應用 | 高吸收材料、寬動態範圍 | NIR 漫反射、薄膜光學 | 量子點、低光通量 NIR、半導體 |
選型建議:V-770 與 V-780 的核心差異在「NIR 區靈敏度」——PbS 檢測器(V-770)適合一般 NIR 漫反射、薄膜光學量測,投資門檻較低;InGaAs 檢測器(V-780)在 NIR 區的靈敏度與訊雜比明顯較好,適合量子點、稀薄樣品、低光通量量測。如果預期會做近紅外標記、量子點、特殊半導體研究,直接 V-780 比較有彈性。完整 5 款差異與選型邏輯,可參考 V-700 系列總覽。
整體系統規劃與相關資源
V-770 搭配整合球、自動樣品台、絕對反射附件時,空間需求顯著超過 V-730 / V-750。光學量測場域常需與膜厚儀、橢偏儀整合,規劃時可一併考量。
整廠規劃與設備整合
相關設備分類
延伸閱讀
需要評估 V-770 配置、整合球選擇、波長擴充選項或整廠規劃,可提供樣品型態、預期波長範圍與現場條件,原拓可協助評估;若有特殊規格需求,亦能依需求協助評估其他配置。