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V-770 JASCO UV-Vis-NIR 分光光度計

品牌：JASCO
產品型號：V-770

V-770採用獨特的單光器設計，可實現最大光通量和出色的光度線性。PMT檢知器用於紫外光到可見光區，PbS檢知器用於近紅外光區域至2700 nm (可選購至3200 nm)）。

V-770 JASCO UV-Vis-NIR 分光光度計

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產品特色

產品特色

特點 :

  • IQ Accessory和 IQ Start：IQ Accessory可自動識別安裝之附件，讓光譜數據可以記錄儀器及附件之資訊。同時可自動載入特定之最佳化儀器參數以實現的樣品測量。 IQ Start 可透過儀器上的按鈕，快速開始樣品測量。
  • 紫外光到近紅外光的測量範圍：V-770 測量的波長範圍為 190 到 2700 nm（可選 3200 nm）。 特殊的單光器設計提供更高的光通量，即使光譜帶寬很窄，也具有良好的信噪比。
  • 各式測量附件：提供各種微量或超微量的液槽座、流動液槽與固體樣品測量附件。
  • 也可選購高階測量附件，例如積分球、自動和手動絕對反射裝置，進行各種材料科學的透射、反射分析及產業規範所需之顏色、霧度、紫外光遮蔽率等測量。
  • 符合規範的儀器驗證，符合包含USP、EP 和 JP之IQ/OQ 儀器認證。
  • 單分光器及對稱式雙光束設計
  • 光電倍增管檢知器及PbS檢知器
規格

規格

型號

V-770

光學系統

單分光器、雙光束系統

光源

氘燈及鹵素燈

波長範圍

190到2700 nm (可選購至 3200 nm)

波長準確度

+/-0.3 nm (at 656.1 nm)

+/-1.5 nm (at 1312.2 nm)

波長再現性

+/-0.05 nm (UV-Vis), +/-0.2 nm (NIR)

光譜帶寬(SBW)

UV-Visible: 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 5, 10 nm

L2, L5, L10 nm (低迷光模式)

M1, M2 nm (微量液槽模式)

NIR: 0.4, 0.8, 1, 2, 4, 8, 20, 40 nm

L8, L20, L40 nm (低迷光模式)

M4, M8 nm (微量液槽模式)

迷光率

1 % (198 nm KCL 12 g/L 水溶液)

0.005 % (220 nm NaI 10 g/L水溶液)

0.005 % (340 nm NaNO2 50 g/L水溶液)

0.005 % (370 nm NaNO2 50 g/L水溶液)

0.04 % (1420 nm: H2O)

0.1 % (1690 nm: CH2Br2)

光度範圍

紫外-可見光區: -4~4 Abs

近紅外區: -3~3 Abs

吸光值準確度

+/-0.0015 Abs (0 to 0.5 Abs)

+/-0.0025 Abs (0.5 to 1 Abs)

+/-0.3 %T Tested

吸光值重複性

+/-0.0005 Abs (0 to 0.5 Abs)

+/-0.0005 Abs (0.5 to 1 Abs)

掃描速度

10-4000 nm/min

RMS 雜訊等級

0.00003 Abs

基線穩定度

0.0003 Abs/hour

基線平坦度

+/-0.0003 Abs

檢知器

光電倍增管 (PMT)，PbS

產品詢問

科學儀器詢問表單

V-770 適合什麼應用

V-770 是 V-700 系列中第一款 UV-Vis-NIR 機種,採用單單色器設計,搭配 PMT(UV-Vis 區)+ Peltier 冷卻 PbS(NIR 區)雙檢測器,波長範圍 190–2700 nm(可擴充至 3200 nm)。單單色器設計提供高光通量,特別適合 NIR 漫反射、鏡面反射量測。可搭配大型整合球、絕對反射附件進行薄膜、固體樣品的光學特性研究。

適合的場域

  • 薄膜光學特性分析:抗反射膜、抗紅外線膜、光學鏡片、半導體光學特性量測
  • NIR 漫反射量測:粉末、塗層、紡織品、農產品的近紅外漫反射光譜
  • 鏡面反射量測:鏡面、晶圓表面、抛光金屬的反射光譜
  • 整合球材料分析:漫透射、漫反射、絕對反射(R∞)的精確量測
  • 近紅外材料科學研究:稀土材料、量子點材料(基礎)、光學玻璃、太陽能玻璃
  • 波長到 3200 nm 的延伸應用:選配波長擴充套件,可量測到 3200 nm 的特殊樣品

不適合的應用

  • 不需 NIR、純 UV-Vis 應用:可考慮 V-750(投資門檻較低)或 V-760(雙單色器)
  • 需要 NIR 區域的高靈敏度量測:量子點、特殊半導體、低光通量 NIR 樣品建議 V-780 的 InGaAs 檢測器
  • 波長超過 3200 nm 的研究:需 FTIR 系列(如 FT/IR-6X 配遠紅外擴充)
  • 極高吸收樣品的精準量測:單單色器設計線性 5 Abs,高吸收建議 V-760(雙單色器 8 Abs)

與同系列其他型號的差異

項目V-760V-770(本款)V-780
波長範圍190–900 nm190–2700 nm(可擴 3200)190–1600 nm
單色器雙單色器單單色器單單色器(雙光柵自動切換)
檢測器PMTPMT + PbS(NIR)PMT + InGaAs(NIR 高靈敏)
NIR 靈敏度不支援標準(適合漫反射)高(適合低光通量樣品)
光通量較低(雙單色器)高(單單色器)高(單單色器)
主要應用高吸收材料、寬動態範圍NIR 漫反射、薄膜光學量子點、低光通量 NIR、半導體

選型建議:V-770 與 V-780 的核心差異在「NIR 區靈敏度」——PbS 檢測器(V-770)適合一般 NIR 漫反射、薄膜光學量測,投資門檻較低;InGaAs 檢測器(V-780)在 NIR 區的靈敏度與訊雜比明顯較好,適合量子點、稀薄樣品、低光通量量測。如果預期會做近紅外標記、量子點、特殊半導體研究,直接 V-780 比較有彈性。完整 5 款差異與選型邏輯,可參考 V-700 系列總覽。

整體系統規劃與相關資源

V-770 搭配整合球、自動樣品台、絕對反射附件時,空間需求顯著超過 V-730 / V-750。光學量測場域常需與膜厚儀、橢偏儀整合,規劃時可一併考量。

整廠規劃與設備整合

相關設備分類

延伸閱讀

需要評估 V-770 配置、整合球選擇、波長擴充選項或整廠規劃,可提供樣品型態、預期波長範圍與現場條件,原拓可協助評估;若有特殊規格需求,亦能依需求協助評估其他配置。