- 可外接觸控型彩色iRM控制面板,具有樣品測量、即時圖譜顯示、資料分析及儲存等功能,並可藉由USB將資料複製至電腦上保存或分析
- 智慧型IQ Accessory & IQ Start辨識功能,可自動判斷安裝附件型號並啟動預設參數
- 軟體可完全相容在Win8.1中文版上執行
- 每日機台效能驗證程式
- 自動化數據處理
- 附件辨識系統
- 免調校之燈源安裝
- 穿透反射零點校正
- 50種以上各式樣品偵測附件
- 多工Spectra ManagerTM光譜
- 控制體或新型iRM-1000控制平板
- 軟體符合21CFR Part 11
Jasco分析型分光光譜儀 V-750 V-760
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產品型號:V-750 V-760
Jasco分析型分光光譜儀 V-750 V-760特色
Jasco分析型分光光譜儀 V-750 V-760規格
型號 | V-750 | V-760 |
光學系統 | 雙光束、單分光器 | 雙光束、雙分光器 |
波長範圍 | 190 ~ 900nm | 187 ~ 900nm |
圖譜頻寬 | 0.1, 0.2, 0.5, 1, 2, 5, and 10 nm (標準高度) L2, L5及L10 nm (低迷光率半高寬) M1,M2 nm (微量液槽專用) | |
波長準確度 | ±0.2nm | ±0.1nm |
波長再現性 | ±0.05nm | |
光源 | 氘氣燈(190 ~ 350nm)、鹵素燈(330 ~ 900nm) | |
燈源切換位置 | 330 ~ 350 nm 可任意調整 | |
檢知器 | 光電倍增管(Photomultiplier tube) | |
掃描速度 | 10, 20, 40, 100, 200, 400, 1000, 2000, 4000 ( 8000nm/min in preview mode) | |
迷光率 | 0.005%T (220 nm NaI, 340 nm NaNO2) | 0.00008%T (220 nm NaI, 340 nm NaNO2) |
基線穩定性 | ±0.0003 Abs/hr. | |
基線平坦度 | ±0.0002 Abs(200 ~ 850nm) | ±0.0003 Abs(200 ~ 800nm) |
測定範圍 | 具Dark Correction 功能,可測定-4 ~ +4Abs | 具Dark Correction 功能,可測定-4 ~ +6Abs |
測定準確度 | ±0.0015 Abs(0 ~ 0.5 Abs) ±0.0025 Abs(0.5 ~ 1 Abs) ±0.3%T | |
測定再現性 | ±0.0005 Abs(0 ~ 0.5 Abs) ±0.0005 Abs(0.5 ~ 1 Abs) | |
測定感度 | RMS noise 0.00003 Abs(500 nm; 60 sec; Response=medium; BW=2 nm) | |
波長切換速度 | 12000 nm/min | |
主機與控制電腦傳輸介面 | USB | |
電源 | 110V/60Hz | |
主機尺寸 | 460(W) x 602(D) x 268(H) mm | |
重量 | 約27公斤 | 約29公斤 |