CPL-300 JASCO 圓偏振發光光譜儀(CPL)

CPL-300 適合什麼應用

CPL-300 是專用的圓偏振發光(Circularly Polarized Luminescence, CPL)光譜儀,量測手性發光分子發出的左旋(L)與右旋(R)圓偏振螢光的差異,以 g 值(luminescence dissymmetry factor,g = 2(I_L − I_R)/(I_L + I_R))量化。CPL 屬於螢光與圓二色(CD)的交集——既需要螢光的偵測能力,也需要 CD 的偏振光技術。CPL 是表徵手性發光材料時不可或缺的工具。

適合的場域

  • 稀土手性發光錯合物:Eu³⁺、Tb³⁺ 手性配位錯合物,稀土離子在 CPL 區常有特別高的 g 值
  • 手性 OLED 與圓偏振發光材料:用於 3D 顯示器、量子資訊處理的圓偏振光源
  • 自組裝手性發光分子:超分子手性組裝體、手性凝膠、手性液晶
  • 手性聚合物螢光:手性共軛聚合物、π-堆疊聚集體的 CPL 訊號
  • 螢光蛋白手性研究:GFP 變異體、其他螢光蛋白的內在 CPL 訊號
  • 手性奈米材料:量子點、奈米團簇的手性表徵
  • 學術前沿研究:CPL 是近年快速發展的研究領域,適合材料化學、超分子化學前沿研究

不適合的應用

  • 純螢光光譜量測、不需要手性資訊:需 FP-8550FP-8650
  • UV-CD 量測(吸收手性):CPL 量測發射端的手性,吸收端手性需 CD 光譜儀,參考 CD 分類頁
  • g 值極低的樣品:CPL 訊號通常較弱,g 值 < 10⁻⁴ 的樣品量測時間長,需多次累積
  • 無對應理論模型的場域:CPL 數據解析常需要 DFT 或 TD-DFT 量子化學計算配合

與 FP-8050 系列的定位差異

CPL-300 雖然在原拓螢光子分類下,但本質上是「**螢光儀 + 圓偏振光學**」,與 FP-8050 系列的關係是互補——FP-8550 / FP-8650 量測螢光強度與光譜形狀,CPL-300 量測螢光的圓偏振手性差異。研究手性發光材料的團隊常同時擁有 FP-8550/8650 + CPL-300。

項目CPL-300(本款)FP-8550 / FP-8650
量測類型圓偏振發光(CPL)總螢光強度
取得資訊激發態手性、g 值螢光強度、發射波長、量子產率
適合樣品手性發光分子、稀土錯合物所有螢光樣品
與 DFT 計算配合常需要不需要
主要應用手性 OLED、稀土錯合物、超分子手性蛋白質螢光、量子點、藥品鑑定

選型建議:CPL-300 是「研究方向決定型」儀器,實務上的選擇邏輯與其他螢光儀不同——研究團隊若有手性發光材料、稀土錯合物、手性 OLED、超分子手性化學等明確研究方向,CPL-300 才有意義。沒有這些方向的場域 CPL-300 投資不會被善用。常見配置是 FP-8550 或 FP-8650(主力螢光) + CPL-300(專用 CPL),涵蓋完整手性發光材料表徵需求。完整 5 款差異與選型邏輯,可參考 螢光 FP-8050 系列總覽

整體系統規劃與相關資源

CPL-300 對振動、溫濕度敏感(類似 CD 光譜儀),需要振動隔離與空調穩定的環境。CPL 訊號通常較弱,研究級量測常需暗室條件、長累積時間。整廠規劃時把 CPL 室與 CD 室、螢光室統一考量,可共用部分環境控制資源。

整廠規劃與設備整合

相關設備分類

延伸閱讀

需要評估 CPL-300 配置、樣品池、與 DFT 計算流程整合或整廠規劃,可提供研究目標、樣品型態與現場條件,原拓可協助評估;若有特殊規格需求,亦能依需求協助評估其他配置。

品牌:JASCO
產品型號:CPL-300

具有圓偏振發光特性的材料研發是近年相當熱門的主題,目前已經應用在液晶顯示器、控制植物生長的光源以及光通信的安全系統等相關產業中。因此,識別發出具有高量子產率的圓偏振光的分子非常重要。CPL光譜包含重要資訊,例如激發分子的穩定結構,以及這些分子在涉及中間激發態的化學反應中的行為。Jasco CPL-300 具有高靈敏度,可在寬頻譜範圍內檢測這些微弱信號,搭配獨特的雙棱鏡激發和發射單色器提供非常低的雜散光,並且不會因使用衍射光柵的儀器而產生雜散線性偏振效應。

CPL-300 JASCO 圓偏振發光光譜儀(CPL)
產品特色

產品特色

特點 :

  • 使用雙棱鏡單色器 – 低雜散光,無二階輻射,無伍德異常現象 (Wood’s anomalies)。
  • 180° 樣品幾何形狀,帶非偏振激發光 – 可用於測量吸收和螢光的去偏振樣品。
  • 搭配激發(Ex)和發射(Em)單色器 – 可選激發波長和放射光譜頻寬。
  • 採用高通量光學系統和高靈敏度光電倍增管 – 提高螢光檢測靈敏度。
  • 數據收集和處理 – 可同時測量CPL和螢光強度,一鍵式數據處理,可轉換為ΔI和glum
規格

規格

型號

CPL-300

光源

150 W 無臭氧風冷Xe燈
(選配:150 W 風冷式氙汞燈)

檢知器

Head-on 光電倍增管 PMT

調變器

Piezoelastic 調變器

電子系統

Rock-in 放大器

單色儀

雙棱鏡單色器,用於Ex(激發)和Em(發射)組件

波長測量範圍

250 to 850 nm
400 to 1100 nm (選配 PMT 檢知器)

波長精度

± 0.2 nm (250-500 nm)
± 0.5 nm (500-800 nm)
± 1.5 nm (800-1100 nm)

波長再現性

± 0.05 nm (250-500 nm)
± 0.1 nm (500-800 nm)
± 0.5 nm (800-1100 nm)

狹縫寬度

1 to 4000 µm

數位積分時間 (D.I.T.)

0.1 msec to 30 sec

掃描模式

連續掃描、步進掃描、自動回應、(D.I.T) 掃描

光度模式

CD (AC comportment = CPL), DC (DC comportment = Fluorescence), HT (High tension voltage of PMT), and AC/DC

CPL 解析度

0.00001 mdeg

波長解析度

0.025 nm

迷光

0.001% 或更少

外部輸入端子

雙通道 (input range: -1 to 1 V DC)

汞燈

用於儀器檢測

快門

位於 Ex 和 Em 單色器上

樣品室

150 mm 寬 x 310 mm 深 x 165 mm 高
包含進水口/出水口

尺寸

2000 mm 寬 x 700 mm 深 x 1000 mm 高

重量

180 kg

電源要求

100, 115, 200, 220, 230, 240 V, 50/60 Hz, 430 VA

應用程式

Spectra Manager Ver.2

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