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JASCO FTIR 光譜儀提供高規的性能及可靠的操作:採用專利貓眼式反射鏡(corner-cube mirrors)、長效雷射源、AccuTrac™ DSP數位訊號處裡技術、及完全密封的干涉儀模組。搭配Spectra Manager™操作軟體及Wiley KnowItAll 圖譜比對軟體,提供最完整紅外光譜測量的解決方案。
特點 :
• 邁克生干涉儀(Michelson interferometer)
干涉儀全體由實心鑄鋁塊製成的外罩完全密封,同時搭配不會潮解 KRS-5 的視窗,完全隔絕外界水氣及任何氣氛干擾。4X及6X使用長效半導體雷射源,最高階機種8X則搭載HeNe雷射源,並搭載專利貓眼式反射鏡(corner-cube mirrors)及AccuTrac™ DSP數位訊號處裡技術。
• 貓眼式反射鏡(corner-cube mirrors)
由3片互相正交的反光鏡組成,即使鏡組角度有偏移,仍可自動校正。提供出色的光學穩定性之外,也無須時時刻刻做干涉儀的光學校准。
• 長效雷射源
長效半導體雷射源即可提供給4X及6X高效的光譜解析度;而搭載HeNe雷射源8X,則能提供最高的光譜解析度。
• 第二光源擴充功能及高訊雜比
全機型皆可擴充第二光源,並提供不同波段的測量。且訊雜比根據應用領域不同,提供35,000:1到55,000:1的機型。
• 高感度電子冷卻DLaTGS檢知器
全機種標配高感度與穩定性的泊耳帖(Peltier)冷卻DLATGS檢知器
• 第二檢知器擴充
提供多種選購的第二檢知器讓測量範圍可達25,000至5 cm-1;包含數種液態氮(LN2)冷卻的 MCT 檢知器、矽光電二極體(silicon photo-diode)、InGaAs與矽輻射熱計(Si bolometer)。
• 氮氣吹掃(Purge)功能與真空機型
全機種標配光路、樣品室與檢知器室氮氣吹掃(Purge)功能,並可選購干涉儀吹掃功能。其中FT/IR-6X/8X更有真空機型,並可獨立控制干涉儀、光路、樣品室與檢知器的抽真空及破真空。
• 合規性
對於需符合各種規範或法規的實驗室,軟體內建符合 ASTM、USP、EP 和 JP等規範的儀器驗證(Validation)程序。 同時可選購 CFR軟體,符合 ALCOA+ 最新的數據完整性要求,並具備自動備份功能。
• Spectra Manager 軟體
Spectra Manager 2.5 軟體可自定測量參數及分析方法,並提供導覽(Navigation)功能及JASCO小幫手協助設定儀器,即使是新手也能實現專業的分析及測量。圖譜比對功能則可以比對自行建立的標準圖譜,或是加購Wiley KnowItAll圖譜比對軟體及資料庫。
• 顯微紅外擴充功能 : 全機種皆可擴充IRT-1000、5000 或 7000 等顯微紅外模組。
型號 | FT/IR-4X | FT/IR-6X | FT/IR-8X |
測量波數範圍 | 7800 to 350 cm-1 | ||
可擴充測量波數範圍(選購) | 11500 to 375 6000 to 220 6000 to 50 cm-1 | 25000 to 20 cm-1 | |
解析度(cm-1) | 0.4, 0.5, 1.0, 2.0, 4.0, 8.0, 16.0 | 0.25, 0.5, 1.0, 2, 4, 8, 16 | 0.07, 0.25, 0.5, 1.0, 2, 4, 8, 16 |
訊雜比 | 35000 : 1 | 47000 : 1 | 55000 : 1 |
檢知器 | 標配: DLATGS (泊耳帖溫度控制) MCT-N, MCT-M, MCT-W, MCT-PV, InGaAs, Broad band DLATGS , PAS | 標配: DLATGS(泊耳帖溫度控制) MCT-N、MCT-M、MCT-W、MCT-PV、 Si photodiode(visible, near IR)、InSb、InGaAs、 DLATGS (PE window)、Broad band DLATGS、Si bolometer。 主機內部可以安裝2個檢知器, 第3檢知器可安裝在主機外部, 全部檢知器皆可透過軟體切換。 | |
分束器 | 標配: Ge/KBr Broad band KBr Mid-Far IR broad band (使用者無法自行更換) | 標配: Ge/KBr Broad band Quartz、Si/CaF2、Broad band KBr、 Broad band mylar、Mid-far IR broad band | |
光源 | 標配: 高強度陶瓷光源(High-intensity ceramic source) 鹵素燈(軟體切換控制) | ||
干涉儀 | 45 º邁克生干涉儀 貓眼式反射鏡 鑄鋁外罩密封結構帶KRS-5視窗 自動校準(Auto-alignment)機構 DSP控制 | 28º 邁克生干涉儀 貓眼式反射鏡 鑄鋁外罩密封結構帶KRS-5視窗(也可使用其他選購的視窗) 自動校準(Auto-alignment)機構 DSP控制 鍍鋁反光鏡。 | |
氮氣吹掃 | 標配: 樣品室與檢知器室 干涉儀 | 樣品室 檢知器室 干涉儀 | |
真空機型 | 無 | 可選擇真空機型,完全消除水氣、二氧化碳等氣氛干擾。 | |
驅動方式 | 機械軸承,電磁驅動 | ||
驅動速度 | Auto, 1, 2, 3, 4 mm/sec | 0.5, 1, 2, 3, 4, 6, 8 mm/sec. | 0.125, 0.25, 0.5, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8 mm/sec |
快速掃描 | 80 Hz(選購) | 40 spectra/sec. (16 cm-1 resolution) | |
電腦連接介面 | USB 2.0 | ||
尺寸(W x D x H) | 386 × 479 × 254 mm | 600 × 690 × 315 mm | 600 × 690 × 315 mm |
重量(kg) | 18 kg | 56 kg | 56 kg |
JASCO FT/IR 系列三款主機共用同一光學設計平台與密封式干涉儀,差異主要在訊雜比、解析度、擴充能力與獨有功能(真空光學、Step Scan 時間解析)。三款都可加裝 IRT 顯微紅外模組,使主機規格延伸到微區成分分析。本頁整理三款的決策邏輯與應用對應,協助釐清選型方向;深入比較各類光譜儀差異與整合可參考 FTIR 紅外線光譜儀選型總覽。
詳細規格請參閱本頁「規格」分頁。報價與客製化評估請洽原拓科技。
下表整理常見應用情境對應的 FT/IR 主機與顯微紅外擴充建議,可作為採購評估的起點。實際配置仍需依樣品數量、預算、操作人員背景綜合判斷。
| 應用情境 | 建議主機 | 顯微擴充 | 配套附件 |
|---|---|---|---|
| 高分子塑膠粒例行鑑定 | FT/IR-4X | 否 | ATR |
| 藥品成分鑑定與藥典 QC | FT/IR-4X / 6X | 否 | ATR + KBr 壓片 + Spectra Manager CFR |
| 薄膜微小污染物分析 | FT/IR-4X / 6X | + IRT-5100 | — |
| 多層複合材料層析分析 | FT/IR-6X | + IRT-5200(IQ Mapping) | — |
| 微塑膠大量篩檢、生醫切片化學影像 | FT/IR-6X | + IRT-7100 / 7200 | — |
| 氣體成分(製程、環檢)分析 | FT/IR-4X / 6X | 否 | 長光程氣體槽 |
| 微秒/奈秒級時間解析光譜研究 | FT/IR-8X | 視應用 | Step Scan 模組 |
| 遠紅外、全頻段(25,000–20 cm⁻¹)研究 | FT/IR-8X + 真空光學系統 | 視應用 | 遠紅外光源 + 檢測器 |
三款主機是同光學設計的階梯式產品線,差異主要在訊雜比、解析度、擴充能力與獨有功能。
訊雜比 35,000:1、最高解析度 0.4 cm⁻¹、緊湊機體(386 × 479 mm),適合教學、QC 例行檢測、入門研究。標配 DLATGS 檢測器與樣品室氮氣吹掃,可選購 Rapid Scan 80 Hz、波數擴充至 6,000–50 cm⁻¹。
訊雜比 47,000:1、最高解析度 0.25 cm⁻¹,擴充能力顯著提升:可選真空光學系統徹底消除水氣與 CO₂ 干擾、波數擴充至 25,000–20 cm⁻¹、Rapid Scan 40 Hz、自動分束器切換。標配光路、樣品室、檢測器氮氣吹掃。適合主流研究、藥品鑑定、材料分析,並預備擴充顯微紅外的場域。
訊雜比 55,000:1、最高解析度 0.07 cm⁻¹,搭載 HeNe 雷射源(其他兩款為半導體雷射)。獨有 Step Scan 時間解析功能,可達奈秒級(最低 10 nsec)。適合時間解析光譜研究、極低濃度檢測、遠紅外全頻段研究。
實務觀察:FT/IR-4X 與 FT/IR-6X 的選擇,實務上多數客戶低估了「擴充能力」這個維度。預期之後可能加裝顯微紅外、或進階到時間解析光譜的研究團隊,從 6X 起跳會比較有彈性——4X 雖然可加 Rapid Scan,但沒有真空光學與 Step Scan,後續升級空間有限。8X 則是訊雜比敏感、需要奈秒級時間解析、或要做 25,000–20 cm⁻¹ 全頻段研究時才會考慮。
下列為 FT/IR 主機三款獨立產品頁,以及可整合的 IRT 顯微紅外系列。點擊進入各機型可看到完整規格與獨有功能說明。
FT/IR-4X — 7800–350 cm⁻¹ / 訊雜比 35,000:1 / 基本款,適合 QC、教學、入門研究
FT/IR-6X — 7800–350 cm⁻¹(可擴 25,000–20)/ 訊雜比 47,000:1 / 標準研究款,真空光學選配
FT/IR-8X — 7800–350 cm⁻¹(可擴 25,000–20)/ 訊雜比 55,000:1 / 解析 0.07 cm⁻¹ / 旗艦研究款,Step Scan 時間解析
三款 FT/IR 主機都可加裝 IRT 系列顯微紅外模組,將紅外光譜分析延伸到微區、單一顆粒、化學影像層級。完整顯微紅外型號比較與選型導引,可進入下方總覽頁。
FT/IR 光譜儀對環境敏感度比一般儀器高,單機進駐既有空間時容易發現環境條件不足或空間配置受限。整廠規劃時把 FT/IR 環境一併考量,可避免後續逐項補空間、補管路、補空調。主要需考量的環境因素包括:水氣與 CO₂ 干擾(需乾燥空氣或氮氣吹掃)、振動(遠離壓縮機與冷凍離心機)、溫濕度穩定、電力穩定與 UPS、空間預留(顯微紅外、自動載台、長光程氣體槽會明顯增加佔地)。
需要評估 FT/IR 主機選型、顯微紅外擴充或整廠規劃,可提供樣品型態、預期應用與現場條件,原拓可協助評估;若有特殊規格需求,亦能依需求協助評估其他配置。