FP-8550 JASCO 螢光光譜儀(高靈敏研究款)

FP-8550 適合什麼應用

FP-8550 是 FP-8050 系列的高靈敏研究款,優化光學設計、超低迷光、增強光譜純度,訊雜比達 1400:1(350 nm)/ 8500:1(450 nm),為 FP-8050 系列中最高靈敏度配置。Auto-Gain 與 Auto-SCS 自動最佳化訊雜比,可從噪聲背景中提取極微弱訊號。波長範圍 200–750 nm(Ex)/ 200–900 nm(Em)。

適合的場域

  • 量子產率測定:搭配 60 mm 或 120 mm 冷卻整合球,進行絕對量子產率量測
  • 低螢光樣品研究:極低濃度螢光標記、低量子產率材料、稀薄樣品
  • 薄膜光致發光(PL)研究:OLED 材料、半導體薄膜、量子點薄膜的 PL 量測
  • 磷光高速掃描:稀土錯合物、磷光標記的快速光譜量測
  • 單顆粒螢光研究:單分子層、稀薄樣品的微弱螢光偵測
  • OLED 與光電材料研究:有機半導體、發光材料的光學特性表徵
  • 需要超低迷光的精準量測:校正標準品開發、SOP 驗證

不適合的應用

  • 純例行 QC、不需要超高靈敏:可考慮 FP-8250FP-8350,投資門檻較低
  • NIR 螢光標記、量子點、碳奈米管:需 FP-8650 的 NIR 紅敏 PMT 至 1010 nm
  • 圓偏振發光(CPL)研究:需 CPL-300 專用機型

與同系列其他型號的差異

項目FP-8350FP-8550(本款)FP-8650
訊雜比(450 nm)優於 FP-82508500:1(系列最高)適合 NIR 區
訊雜比(350 nm)標準1400:1標準
超低迷光與光譜純度標準優化優化(NIR 配置)
波長範圍(Em)200–900 nm200–900 nm200–980 nm(可選 1010 nm)
NIR 紅敏 PMT不支援不支援標配
量子產率測定(配 IS)可加裝最佳搭配可加裝(NIR 區)
主要應用主流研究、磷光、藥品鑑定量子產率、低螢光、薄膜 PLNIR 螢光標記、量子點、碳奈米管

選型建議:FP-8550 與 FP-8650 的核心差異在「靈敏波長區域」——FP-8550 訊雜比(450 nm)達 8500:1 為系列最高,但 PMT 響應範圍止於 900 nm;FP-8650 的紅敏 PMT 將範圍延伸到 980 nm(可選 1010 nm),靈敏度往 NIR 區傾斜。如果研究是 OLED、薄膜 PL、量子產率測定、低螢光小分子,FP-8550 是合理選擇;若樣品是量子點、carbon dots、NIR 標記抗體,直接 FP-8650 才有意義。完整 5 款差異與選型邏輯,可參考 螢光 FP-8050 系列總覽

整體系統規劃與相關資源

FP-8550 是研究級高靈敏配置,搭配整合球、固體樣品架、Peltier 池座、停止流動模組時空間需求顯著。低螢光樣品量測對外部漫射光與振動較敏感,規劃時可考慮暗室條件、振動隔離與樣品冷藏動線整合。

整廠規劃與設備整合

相關設備分類

延伸閱讀

需要評估 FP-8550 配置、整合球、固體樣品架、量子產率測定模組或整廠規劃,可提供樣品型態、預期應用與現場條件,原拓可協助評估;若有特殊規格需求,亦能依需求協助評估其他配置。

品牌:JASCO
產品型號:FP-8550

FP-8550 具有最高靈敏度,可以快速測量低螢光放射的樣品,無論是生物分子或低量子效率的材料。皆可以使用高速掃描快速測得高品質的數據。可配置最廣泛的測量附件和應用程式,例如溫度相關的熔點和動力學分析,材料科學的各向異性、FRET和量子產率的測定等。

FP-8550 JASCO 螢光光譜儀(高靈敏研究款)
產品特色

產品特色

特點 :

  • 高強度連續輸出氙弧燈
  • 即時監控激發能量確保穩定性
  • 測量前保護樣品的自動快門
  • 自動雜散光抑製濾光片
  • 高靈敏度 S/N 8500:1 (RMS)
  • 高達 60,000 nm/min 的掃描速度
  • 波長範圍:200 至 850 nm
  • 標配光譜校正配件
  • 可搭配積分球測量量子產率
規格

規格

型號

FP-8550

光源

連續輸出氙(Xe)弧燈 (150 W)

光源(用於驗證)

低壓汞燈

光度系統

單色光監測氙燈強度輸出的比率光度計系統

單光器

Rowland mount全息凹面光柵

Ex 波長範圍(使用標準檢知器)

Zero order, 200 – 850 nm

Em 波長範圍(使用標準檢知器)

Zero order, 200 – 850 nm

Ex 波長範圍(使用波長擴充檢知器)

Em 波長範圍(使用波長擴充檢知器)

靈敏度 (RMS)

8,500:1

Ex 解析度

1.0 nm (at 546.1 nm)

Em解析度

1.0 nm (at 546.1 nm)

Ex 帶寬

1, 2.5, 5, 10, 20, L5, L10 nm

Em帶寬

1, 2.5, 5, 10, 20, L5, L10 nm

Ex 波長準確度

±1.0 nm

Em波長準確度

±1.0 nm

波長重複性

±0.3 nm

Ex 波長掃描速度

10, 20, 50, 100, 200, 500, 1,000, 2,000, 5,000, 10,000, 20,000, 60,000 nm/min

Em波長掃描速度

10, 20, 50, 100, 200, 500, 1,000, 2,000, 5,000, 10,000, 20,000, 60,000 nm/min

反應時間

10, 20, 50, 100, 200, 500 msec, 1, 2, 4, 8 sec

檢知器

Ex: Silicon photodiode, Em: PMT

光度範圍

-10,000 – 10,000

靈敏度選擇

High, Medium, Low, Very Low, Manual, Auto SCS

自動增益(Auto Gain)

標配

快門(Shutter) 功能

標配 (自動控制)

樣品照射系統

水平照射

樣品室

10 mm方形比色池治具,具氮氣吹掃(purge)功能

IQ Accessory 功能

標配

Start 按鈕

標配

連線控制介面

USB 2.0

控制及數據處里

Spectra Manager™ Ver.2.5/CFR

光譜校正工具

標配(羅丹明 B 乙二醇溶液)

產品詢問

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